透射式电子显微镜（TEM）是一种利用高能电子束穿透样品进行微观结构分析的精密仪器，其工作原理基于电子与样品原子的散射作用形成图像，广泛应用于材料科学、生物学及物理学领域,对材料原子排列、晶格缺陷乃至电荷分布等进行直观观测。