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X射线衍射分析仪
时间:2026-03-09 作者:

  X射线衍射分析仪是利用晶体物质对X射线的衍射效应进行物质结构分析的技术。其原理遵循布拉格方程2dsinθ=nλ,通过测定衍射角与强度实现化合物成分、晶粒尺寸及形貌的定性定量分析,可应用于金属、非金属、纳米材料等物质的物理相鉴定和结构表征。

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